Halvleder analyse
-
DB-FIB
Serviceintroduktion I øjeblikket anvendes DB-FIB (Dual Beam Focused Ion Beam) i vid udstrækning inden for forskning og produktinspektion på tværs af områder såsom: Keramiske materialer，Polymerer，Metalmaterialer，Biologiske undersøgelser，Halvledere，Geologiserviceomfang Halvledermaterialer, organiske/uorganiske materialer, organiske/organiske materialer, organiske materialer, organiske molekyler ikke-metalliske materialer Servicebaggrund Med den hurtige fremgang inden for halvlederelektronik og integrerede kredsløb t... -
Destruktiv fysisk analyse
Kvalitetskonsistenserneaf fremstillingsprocessenielektroniske komponentererforudsætningenfor at elektroniske komponenter opfylder deres brug og relaterede specifikationer. Et stort antal forfalskede og renoverede komponenter oversvømmer komponentforsyningsmarkedet, tilgangenat bestemme ægtheden af hyldekomponenter er et stort problem, der plager komponentbrugere.
-
Fejlanalyse
Med afkortningen af virksomhedens F&U-cyklus og væksten i produktionsskalaen står virksomhedens produktstyring og produktkonkurrenceevne over for flere pres fra indenlandske og udenlandske markeder. Gennem hele produktets livscyklus er produktkvaliteten garanteret, og den lave fejlrate eller endda nul Fejl bliver en vigtig konkurrenceevne for en virksomhed, men det er også en udfordring for virksomhedens kvalitetskontrol.
